Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия - Бублик Владимир | |
Описание к книге: "Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия" В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Владимир Бублик : Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия скачать fb2, epub, pdf, txt.  Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия - Бублик Владимир Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия - Бублик Владимир | |
|
| |